电子产品高低温老化测试实验箱-湖北28圈试验设备有限公司

28圈

电子产品不管是元件,部件,整机,设备,都要进du行老化和测试.老化和测试不是一个概念.先老化后测试.电子产品(所有产品都是这样)通过生产制造后,形成了完整的产品,已经可以发挥使用价值了,但使用以后发现会有这样那样的毛病,又发现这些毛病绝大部分发生开始的几小时至几十小时之内,后来干脆就规定了电子产品的老化和测试,仿照或者等效产品的使用状态,这个过程由产品制造者来完成.通过再测试,把有问题的产品留在工厂,没问题的产品给用户,以保证买给用户的产品是可靠的或者是问题较少的.这就是老化测试的意义.
一：产品规格选型：
产品型号：GT-HB-TS系列
高低温试验箱容积：
80L（500×400×400 ）
120L（600×500×400 ）
150L （600×500×500 ）
225L（750×500×600 ）
408L （850×600×800）
800L （1000×1000×800）
1000L （1000×1000×1000 ）
1500L（1500×1000×1000 ）
（更大或更小尺寸以客户要求定做）
设备图片

温湿度范围：

A温度: -0℃～150℃（可任意设定）
B温度: -20℃～150℃（可任意设定）
C温度: -40℃～150℃（可任意设定）
D温度: -50℃～150℃（可任意设定）
E温度: -60℃～150℃（可任意设定）
F温度: -70℃～150℃（可任意设定）
三、升降温速度：
1. 常温→150℃ 约35分钟（非线性空载，约3℃/分钟）
2. 常温→-40℃ 约55分钟（非线性空载，约1℃/分钟）